NMR-spektroskopia
NMR-spektroskopia Bruker Avance III 500 MHz spektrometerillä nestemäisistä, kiinteistä tai geelimäisistä näytteistä. Hinta alkaen 89 €/näyte.

TEM kuvantaminen
TEM kuvantaminen FEI Tecnai 12 120kV TEM tai JEOL JEM-2800 HR-TEM laitteilla. Hinta alkaen 109 €/näyte.

SEM kuvantaminen
SEM Kuvantaminen ja EDS analyysit Zeiss Sigma VP ja JEOL JSM-7500FA laitteilla. Hinta alkaen 69 €/näyte.

Alkuaineanalyysit (CHNSO)
Alkuaineanalyysit hiilen (C), vedyn (H), typen (N), rikin (S) ja hapen (O) pitoisuuksien määrittämiseen orgaanisista ja epäorgaanisista matriiseista.

DSC
Differentiaalinen pyyhkäisykalorimetria esimerkiksi sulamislämpötilan, sulamisentalpian ja lasisiirtymäpisteen määrittämiseksi.

ERDA
ERDA (Elastic Recoil Detection Analysis) ohutkalvojen alkuainekoostumuksien määrityksiin ja syvyysprofilointiin. Hyvä herkkyys kevyille alkuaineille.

FTIR
Infrapunaspektrometria materiaalien ja kemiallisten ryhmien tunnistukseen.

GC-MS
Kaasukromatografia-massaspektrometria haihtuvien yhdisteiden määrälliseen ja laadulliseen analysointiin.

ICP-MS
Induktiivisesti kytketty plasma – massaspektrometria metallien pitoisuusmäärityksiin ppb tasolle saakka.

ICP-OES
induktiivisesti kytketty plasmaemissiospektrometria metallien pitoisuusmäärityksiin.

IC
Ionikromatografia orgaanisten ja epäorgaanisten ionien pitoisuusmäärityksiin.

MP-AES
Mikroaaltoplasma-atomiemissio -spektrometria metallien pitoisuusmäärityksiin.

PIGE
PIGE (Particle-Induced Gamma Emission) analyysi kevyiden alkuaineiden (esim. Na, Al ja Si) määrittämiseen kiinteistä näytteissä.

POM
Polarisaatiomikroskooppi, jota voidaan käyttää myös ilman polarisaatiota valomikroskopiaan.

RBS
RBS (Rutherford backscattering spectrometry)soveltuu materiaalien rakenteen ja alkuainekoostumuksien määrittämiseen. Tunnetaan myös nimellä HEIS (High-Energy Ion Scattering).

TGA
Termogravimetrinen analyysi näytteen termisen stabiiliuden selvittämiseksi.

XPS
Röntgenfotoelektroni-spektroskopia pintojen alkuainekoostumusten, hapetusasteiden ja atomitason sitoutumisen tutkimiseen.

XRD
Röntgendiffraktio kiinteiden aineiden tunnistamiseen ja määrällisiin analyyseihin.

XRF
Röntgenfluoresenssi (ED-XRF ja WD-XRF) kiinteiden ja nestemäisten näytteiden alkuainekoostumusten analysointtin.

Zetasizer
Kiinteän kulman valonsirontalaite nesteeseen dispergoitujen partikkeleiden koon ja -jakauman määrittämiseen.

Mastersizer
Valonsirontalaite kuivien ja nesteeseen dispergoitujen jauheiden partikkelikoon määrittämiseen.