NMR-spektroskopia
NMR-spektroskopia Bruker Avance III 500 MHz spektrometerillä nestemäisistä, kiinteistä tai geelimäisistä näytteistä. Hinta alkaen 89 €/näyte.

TEM kuvantaminen
TEM kuvantaminen FEI Tecnai 12 120kV TEM tai JEOL JEM-2800 HR-TEM laitteilla. Hinta alkaen 109 €/näyte.

SEM kuvantaminen
SEM Kuvantaminen ja EDS analyysit Zeiss Sigma VP ja JEOL JSM-7500FA laitteilla. Hinta alkaen 69 €/näyte.

DSC
Differentiaalinen pyyhkäisykalorimetria esimerkiksi sulamislämpötilan sulamisentalpian ja lasisiirtymäpisteen määtittämiseksi.

FTIR
Infrapunaspektrometria materiaalien ja kemiallisten ryhmien tunnistukseen.

GC-MS
Kaasukromatografia-massaspektrometria haihtuvien yhdisteiden kvalitointiin ja kvantitointiin.

ICP-MS
Induktiivisesti kytketty plasma – massaspektrometria metallien pitoisuusmäärityksiin ppb tasolle saakka.

IC
Ionikromatografia orgaanisten ja epäorgaanisten ionien pitoisuusmäärityksiin.

MP-AES
Mikroaaltoplasma-atomiemissio -spektrometria metallien pitoisuusmäärityksiin.

POM
Polarisaatiomikroskooppi, jota voidaan käyttää myös ilman polarisaatiota valomikroskopiaan.

TGA
Termogravimetrinen analyysi näytteen termisen stabiliuden selvittämiseksi.

XRD
Röntgendiffraktio kiinteiden aineiden tunnistamiseen ja näytteen sisältämien faasien määräsuhteiden arviointiin.

XRD
Röntgenfluoresenssimittaukset kiinteiden näytteiden monialkuaineanalyysiin.

Zetasizer
Kiinteän kulman valonsirontalaite nesteeseen dispergoitujen partikkelleiden koon ja -jakauman määrittämiseen.

Mastersizer
Valonsirontalaite kuivien ja nesteeseen dispergoitujen jauheiden partikkelikoon määrittämiseen.